IREIS est équipé de nombreux moyens de caractérisation des surfaces telles que la mesure de certaines de leurs propriétés mécaniques, physico-chimiques, électriques ou optiques, mais aussi de nombreuses méthodes d’analyse topographique et d’observation microscopique.
Caractérisation des couches / topographie / épaisseur (cliquer ici pour voir le détail)
Mesure d'épaisseur suite à calotest
Rugosimètre/profilomètre 2D,
Rugosimètre/profilomètre 3D,
AFM
Profilomètre alpha step,
Calotest,
Coupe micrographique
Energie de surface (angle de goutte)
Interféromètre optique en lumière blanche
Caractérisation d’adhérence et de dureté (cliquer ici pour voir le détail)
Indentation Rockwell
Pull test avec bande adhésive,
Scratch test,
Indentation Rockwell C
Microindentation instrumentée
Microindentation Vickers
Indentation Rockwell
Microscopie et analyse (cliquer ici pour voir le détail)
Microscope optique
Microscopie optique,
Microscopie binoculaire
MEB / EDX
Fluorescence X
Caractérisation optique, électromagnétique et électrique (cliquer ici pour voir le détail)
Vue d'une caméra infrarouge
Spectrophotomètre avec sphère intégrante
Caméra infrarouge
Colorimétrie
Champ magnétique
Mesures de résistances électrique 4 pointes et par courant de Foucault
