Techniques de caractérisation

IREIS est équipé de nombreux moyens de caractérisation des surfaces telles que la mesure de certaines de leurs propriétés mécaniques, physico-chimiques, électriques ou optiques, mais aussi de nombreuses méthodes d’analyse topographique et d’observation microscopique.

Caractérisation des couches / topographie / épaisseur (cliquer ici pour voir le détail)
  • Rugosimètre/profilomètre 2D,
  • Rugosimètre/profilomètre 3D,
  • AFM
  • Profilomètre alpha step,
  • Calotest,
  • Coupe micrographique
  • Energie de surface (angle de goutte)
Caractérisation d’adhérence et de dureté (cliquer ici pour voir le détail)
  • Pull test avec bande adhésive,
  • Scratch test,
  • Indentation Rockwell C
  • Microindentation instrumentée
  • Microindentation Vickers
  • Indentation Rockwell
Microscopie et analyse (cliquer ici pour voir le détail)
  • Microscopie optique,
  • Microscopie binoculaire
  • MEB / EDX
  • Fluorescence X
Caractérisation optique, électromagnétique et électrique (cliquer ici pour voir le détail)
  • Spectrophotomètre avec sphère intégrante
  • Caméra infrarouge
  • Colorimétrie
  • Champ magnétique
  • Mesures de résistances électrique 4 pointes et par courant de Foucault